拉偏测试
(计算机科学技术名词)
拉偏测试(high-low bias test)是2018年公布的计算机科学技术名词。测试设备在正常和非正常两种工作状态下设备性能参数值的变化,以检测设备存在的潜在缺陷。测试设备在正常和非正常两种工作状态下设备性能参数值的变化,以检测设备存在的潜在缺陷。
知识树
时光轴
论点集
总题库
阅读模式
知识树 创建页面
知识树 创建说明
领域
提 交
计算机
科技
农学
技术
科学
词条相关
词条 主页
》
词条 科普
》
词条 事件
》
词条 题库
》
词条 知识
》
加载更多
加载更多
加载更多
加载更多