拉偏测试

拉偏测试（high-low bias test）是2018年公布的计算机科学技术名词。测试设备在正常和非正常两种工作状态下设备性能参数值的变化，以检测设备存在的潜在缺陷。测试设备在正常和非正常两种工作状态下设备性能参数值的变化，以检测设备存在的潜在缺陷。