弹道电子发射显微镜

弹道电子发射显微镜（ballistic electron emission microscope，BEEM），微生物学名词，一种配备有三个传送图像末端的扫描隧道显微镜，可用于研究弹道电子通过材料-材料界面的输送。主要应用于研究金属-半导体肖特基二极管以及金属-绝缘体-半导体系统的界面。