次级离子质谱法

次级离子质谱法（secondary ion mass spectrometry）是2014年公布的药学名词。利用初级离子轰击样品表面，使样品表面的部分原子离子化，形成次级离子，再利用质谱仪测量从靶上射出的次级离子质荷比的技术。