高频光电导衰退法

高频光电导衰退法（high frequency measurement of photoconductivity decay method），材料科学技术名词，通过电容将高频振荡信号耦合到半导体样品上，在光脉冲照射下，测量信号振幅衰减的时间常数，确定半导体中少数载流子寿命的电学测量技术。