衍射衬度电子显微术（electron microscopy of diffractioncontrast），工学-材料科学与工程-材料基础-材料表征与分析-[显微术]-[电子显微术]，由电子衍射效应在电子显微象中产生衬度从而研究晶体微观组织的一种技术。简称衍衬显微术。电子与晶体交互作用过程中，由于晶体内各处，尤其是缺陷附近区域的晶面方位、晶面间距、结构振幅等以及晶体尺寸的差异造成样品下表面各处衍射强度的相应分布，构成衍射衬度象，简称衍衬象。衍衬电子显微术包括衍衬象的获得以及对衍衬象的正确分析和解释，即衍射衬度理论。衍衬显微术是1956年由英国剑桥卡文迪什（Cavendish）实验室的P.B.赫什(Hirsch）、M.J.惠兰(Whelan）、A.豪伊(Howie）等和W.波尔曼(Bollmann）同时发展的。它的发明是电子显微学的一项重大成就，是研究薄晶体内部正常周期遭到破坏状态的最有效方法，使晶体中显微组织特别是晶体缺陷的直接观察成为现实。20世纪80年代，利用反射衍射方法将此技术扩展到对块状试样的表面研究。衍衬象的获得 在双束条件下，用单束成象。