直流光电导衰退法

直流光电导衰退法（direct current measurement of photoconductivity decay），材料科学技术名词，在光脉冲照射下，测量通以恒定电流的半导体样品两端的电压衰减过程的时间常数，从而确定半导体中少数载流子寿命的电学测量技术。