单粒子功能中断（single event functional interrupt；SEFI），工学-航空宇航科学与技术-航天-航天综合电子技术-航天微电子-集成电路，质子或重离子入射时引起器件的控制逻辑出现故障，进而中断正常的控制功能的现象。是一种单粒子效应。对于现场可编程逻辑门阵列（FPGA），单粒子功能中断主要是引起FPGA的上电复位控制电路（POR）、通信接口控制逻辑（Select-MAP、JTAG）和配置控制器的功能故障。对于数字信号处理器（DSP），单粒子功能中断可能会引起DSP中断控制器、JTAG接口、指令译码器、外设控制器等的功能产生异常。单粒子功能中断和单粒子锁定不同的是，单粒子功能中断不要求电路的电源循环恢复工作能力。和单粒子烧毁不同的是，单粒子功能中断不会导致永久损毁。单粒子功能中断典型的是重离子撞击造成由期间循环到一个不能再生的模式。由单粒子效应引起的功能模块故障如图所示。