校验纠错电路（check error correction circuit），工学-电子科学与技术-集成电路-存储器-存储器电路，用于检查存储器电路的数据是否出错并将错误的部分数据改正的特定电路。信息化技术的飞速发展，特别是大数据技术的出现，推动了大容量存储需求的快速增长。同时，伴随半导体工艺技术的进步，电子元器件尺寸的缩小使得电路的集成度越来越高，这在存储器电路中尤其明显。集成度提高促进存储器容量提升的同时，也带来了许多有关可靠性的问题，包括集成电路制造过程中引入的缺陷问题，空间辐射引起的单粒子翻转问题等。在存储器电路中添加具有校验和纠错功能的电路，可以有效提高存储器电路的稳定性，在高集成度大容量存储器中至关重要。典型的校验纠错电路通过增加冗余的数据位，并采用特定的校验纠错算法与原来存储的数据进行相关。一旦存储的数据出错，一位（或几位）错误可以被检测出来甚至予以纠正。例如，对原始数据添加一位冗余数据，记录原始数据的奇偶个数，就可以实现原始数据出现1位错误的校验功能。使用错误校验码对存储器中的数据进行编译码是解决存储器数据错误的有效方法。