云纹测量技术

云纹测量技术（Moiré measurement technology），理学-力学-﹝实验力学﹞-实验固体力学-﹝光测量技术﹞-云纹测量技术，基于光栅叠加和变形而产生的云纹条纹的变化进行位移、应变、形貌测量的实验技术的总称。是一个广义的概念。光栅是云纹测量技术中基本的测量元件，如图1所示，常用的有单向光栅和正交光栅（或正交点阵）。云纹条纹的形成通常可以理解为：将两个等间距光栅重叠后，当它们发生相对转动或某一光栅中栅线间距增大或减小时，则一个光栅的不透明部分将遮盖住另一个光栅的透明部分，形成比原来宽得多的不透明暗带，同时在两个透明部分重合的地方，将形成透明的亮带，这样明暗相间的条纹称为云纹。与栅线方向平行的云纹为平行云纹，与栅线方向有一定夹角的云纹称为转角云纹，如图2所示。图1 光栅的种类图2 典型云纹图产生云纹条纹需要一定的条件，即两组光栅的栅距接近，以及夹角不宜太大。当两组光栅的几何参数如栅距，以及方位发生相对小的变化（平移和转动），都会引起云纹条纹较大的间距变化、宏观移动和形状的变化，基于该原理可进行物体表面变形的测量。