单晶生长条纹

单晶生长条纹（growth striation of crystal），工学-材料科学与工程-电子信息材料-半导体材料-半导体杂质缺陷，熔体生长中，由于一些生长参数的瞬时起伏，引起杂质有效分凝系数瞬时变化，使晶体中杂质分布微观不均匀，晶体性能沿生长方向出现周期性或间歇性（非周期性）的变化，形成的平行于固-液界面的条纹形状。见半导体中的杂质缺陷。