微纳米云纹（micronano Moiré），理学-力学-﹝实验力学﹞-实验固体力学-﹝光测量技术﹞-云纹测量技术，具有微纳米位移测量灵敏度的云纹技术。发展简史云纹法是伴随着制栅技术的发展（所用光栅频率的增加）而发展起来的。1948年，R.韦勒和M.B.谢帕德最早提出几何云纹法，并将其应用到平面位移和应变测量中。此后，几何云纹法的应变分析理论和技术得到迅速发展，并进入广泛应用阶段。然而，由于受到光栅衍射的影响，几何云纹法所用的光栅频率一般低于100线/毫米，相应的位移测量灵敏度小于0.01毫米。随着科学技术的迅猛发展，几何云纹法的测量灵敏度已不能满足微观变形测量的要求。20世纪80年代，D.波斯特等人建议将近代光栅技术即高密度衍射光栅引入云纹法，提出了云纹干涉技术，所用光栅频率一般为600～1200线/毫米。其位移测量灵敏度比传统的几何云纹法高几十倍至上百倍。测试技术的发展往往依赖于先进的测试仪器。