最坏模式测试

（计算机科学技术）
最坏模式测试（worst pattern test），计算机科学技术名词，在特定存储介质存储的信息在某种1与0组合情况下，会在读出信息时出现最严重的干扰信号，对该信息组合模式的测试称为最坏模式测试。
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