反散射厚度计

反散射厚度计（backscatter thickness meter）是2014年公布的放射医学与防护名词。根据射线的反散射原理制成的用于测量管道壁厚的携带式同位素仪表。主要用于测量涂层、镀层厚度以及只能从一侧接近待测物时物体的厚度。有X射线、γ射线、β射线反散射厚度计。