Z扫描技术（Z-scan technique），理学-物理学-光学-〔光与物质相互作用〕-〔非线性相互作用〕，非线性光学中用来测量三阶非线性系数的实验方法之一。最早由M.谢赫-巴哈于1989年提出。在该技术中，利用紧聚焦光束，在焦点产生径向依赖的高光强分布，将样品薄膜沿光传播方向移动并通过焦点，焦点的高光强引起显著的非线性效应，导致光束的聚焦或散焦。根据其非线性响应，可以推断样品的三阶非线性折射率的正负和强度，以及非线性吸收的贡献。由于其光路简单灵敏度高等特点获得广泛应用，并在理论和实验中不断完善，如双色扫描和时间分辨-扫描等。Z扫描实验装置典型的Z扫描实验装置如图所示。入射光通常具有高斯型截面并在聚焦处形成一个具有同样截面的焦点，由于非线性响应，薄膜折射率沿径向变化，表现为等效的正透镜或负透镜，引起光束的聚焦或散焦，从而使小孔透过的光强发生变化。当样品从向方向运动时，探测器2的信号表现为先谷后峰（正）或先峰后谷（负）。在小孔足够小时，可以精确估算出非线性折射率的数值。当系统存在非线性吸收时，可以打开小孔，用探测器收集全部透射光。