接触模式（contact mode），理学-化学-物理化学-生物物理化学-接触模式，原子力显微镜的一种基本工作模式。在该模式中，微悬臂上的针尖与样品表面距离非常近（几纳米），此时排斥力起主要作用（见图）。原子力显微镜在进行接触模式扫描成像时，微悬臂保持恒定高度（即恒定高度模式）或恒定力值（即恒力模式），而针尖始终与样品保持近距离接触。微悬臂感受和放大针尖与被测样品原子之间的作用力，可以获得稳定的、高分辨图像。为了得到较好的成像效果，接触模式一般使用弹性系数较小的悬臂。扫描时，探针在样品表面滑动，摩擦力和表面形貌的变化会对悬臂施加力，从而引起悬臂梁的横向（或纵向）偏转。接触模式中横向力的存在不利于表面结合弱和软的样品分析，这是因为针尖的横向滑动会破坏这类样品表面形貌特征。