卢瑟福离子背散射谱法
(材料科学技术)
卢瑟福离子背散射谱法(Rutherford ion backscattering spectrometry,RBS),材料科学技术名词,测定大角度卢瑟福背散射离子的能谱,可对样品所含元素进行定性、定量和深度分布分析,以及薄膜厚度的测定。
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