反射式电子显微术

反射式电子显微术（reflection electron microscopy）是2018年公布的生物物理学名词。一种用透射电镜观测材料表面的技术。当电子束以一定的掠射角打击样品表面，表面不同部位的散射(反射)电子聚焦在透镜后不同位置，沿Z轴移动样品可将选定的样品部位聚焦在选定的像平面上产生样品表面像和反射高能电子衍射花样。