单晶X射线衍射是利用单晶体对 X射线的衍射效应来测定晶体结构的实验方法。依照强度记录方式的不同，可分为照相法和衍射仪法两类。简介照相法 使射线作用在胶片上，然后测量底片上衍射点的黑度来获得衍射线的强度数据，根据实验装置和条件的差别，又分为多种方法。劳厄照相法用连续波长的 X射线照射到静止不动的单晶体上，通常采用平板底片，所摄得的衍射图称为劳厄图。劳厄图常用来测定晶体的对称性和用于晶体的定向等。示的一系列圆锥面上，衍射图展平后如图1b所示，图中衍射点排列成一系列平行的层线。利用转动图中的层线间距可算出晶格参数(见点阵)，若晶体的c轴与转动轴一致，则c轴长可由下式求得:式中λ为X射线的波长;r为圆筒形底片的半径;yn为第n层层线和零层线的距离。对于结构简单的晶体，转动法可用于测定其晶体结构;但对于较复杂的结构，转动法就有困难，这是因为同一层线的衍射点分布密集，不利于衍射点的指标化和强度测量。2回摆照相法实验条件和装置与转动法基本一样，差别在于照相过程中，晶体只在选定的角度范围内来回摆动。这样可以避免同一层线上衍射点的重叠。但要摄取多套回摆图，才能收集完整